项目简介
测试原理
XRF技术的基本原理可以分为两部分：原子的激发和荧光的产生。
1、原子的激发
当高速运动的粒子（如电子、质子或离子）穿过原子时，会将能量传递给原子，使原子内部的电子从低能级跃迁到高能级，这个过程称为激发。激发后的原子处于不稳定状态，电子会迅速从高能级向低能级跃迁，释放出多余的能量。
2、荧光的产生
当原子从激发态向基态跃迁时，会释放出一定能量的射线，这种射线称为荧光射线。不同元素的原子产生的荧光射线具有不同的能量特征，因此可以通过测量荧光射线的能量来确定样品中存在的元素。
测试步骤
X射线荧光光谱仪主要由以下几部分组成：激发系统，分光系统，探测系统，仪器控制和数据处理系统。
（1）激发系统 主要部件为X射线管，可以发出原级X射线（一次X射线），用于照射样品激发荧光X射线 ；
（2）分光系统 对来自样品待测元素发出的特征荧光X射线进行分辨（主要为分光晶体）；
（3）探测系统 对样品待测元素的特征荧光X射线进行强度探测；
（4）仪器控制和数据处理系统 处理探测器信号，给出分析结果；
以日本ZSX Primus III+为例，一般测试步骤为：
1.将待测样品研磨成细粉；
2.用压片机将样品粉末压制成薄片，
3.将制好的样品薄片放入X射线荧光光谱仪的样品盘中，设置仪器参数，如电压、电流、时间等.
4.打开仪器，开始测量。仪器会自动记录样品的特征X射线波长和强度；
5.仪器根据元素谱线强度自动换算元素含量。
样品要求
1. 样品状态：可为粉末、块状、薄膜样品
2. 粉末样品：粉末样品需要至少2 g ，最好3 g以上，样品在测试之前尽量干燥，可以过200目筛的样品无需研磨；含碳元素含量超过10%的样品，请先将样品烧成灰，再测试；
3. 块状、薄膜样品：块状样品尺寸在2.5 ~4.5cm之间，标明测试面（表面光滑平整），块体样品最好平面平整光滑，上下面平行；
4. 粉末样品只能回收剩余的样品；
返回