项目简介

测试原理

X射线入射样品的表面，可以激发出轨道芯能级中的电子，叫做光电子，基于爱因斯坦的光电发射理论，遵循能量守恒公式：入射源的能量等于光电子的动能和结合能之和，不同元素不同轨道岀射的光电子具有不同的特征结合能信息，因此可以用结合能的数值来表征不同的元素和化学态信息。

测试步骤

常规测试步骤如下所示：
1、制样。对于粉末样品，一般是压片制样，对于块体或薄膜，裁剪成适当大小后，将待测样品置于样品盘上。

2、进样。将制备好的样品送进进样室进行抽真空，达到要求的真空度(一般在样品室的压力小于2.0×10-7mbar)，将样品送入分析室。
3、测试。

4、编程、采集谱。比如扫描元素、步长、扫描次数等。
5、保存数据。测试结果一般是Excel格式。

样品要求

1. 样品状态：可为粉末、块状、薄膜样品
2. 粉末样品：20-30mg
3. 块状、薄膜样品：块体/薄膜样品尺寸小于5*5*3mm
注意：默认是一个样品测试一个位置，需要测试多个位置按照多个样品计费。薄膜、块体等样品，若样品表面组分不均匀，会造成测试结果的差异！

返回

X射线光电子能谱仪（XPS）

仪器型号: Thermo Kalpha；Thermo ESCALAB 250XI; Axis Ultra DLD Kratos AXIS SUPRA; PHI-5000versaprobeIII

预约次数: 126481次

服务周期: 收到样品后平均2.0-4.4工作日完成