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项目简介

测试原理

四探针法基于基尔霍夫电流定律(KCL)和基尔霍夫电压定律(KVL)进行测量。在进行四探针法测试时,首先需要在被测器件的四个端口上分别连接四个探针,形成一个闭合的四端口网络。然后,通过测量四个端口的电流和电压,可以得到被测器件的电阻参数。
1、固体导体的电阻率可以通过欧姆定律和电阻定律测量;
2、测试得到的电阻可以通过换算得到电导率;
3、电导和电阻的关系,如果R是电阻(单位欧姆Ω),电导为G(单位西门子S),则:G = 1/R;
4、电阻=方阻x膜厚;


样品要求

1.粉末样品需压片测试,质量大于50mg 或者体积大于2-3ml;
2.薄膜,提供准确膜厚,厚度均匀;
3.块体上下平行,最好抛光处理;
4.常温样品尺寸直径或者长度最少10mm;
5.变温样品尺寸小于10x10mm,厚度大于0.3mm小于2mm;
6.表面整洁,不污染探针;
注:粉末压片会影响测试结果,不支持免费复测,支持压片后送样。


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四探针测试仪

仪器型号: RM100A等

预约次数: 2158次

服务周期: 收到样品后平均2.3-7.0工作日完成