项目简介

测试原理

AFM是用微小探针“摸索”样品表面来获得信息。如下图所示，当针尖接近样品时，针尖受到力的作用使悬臂发生偏转或振幅改变。悬臂的这种变化经检测系统检测后转变成电信号传递给反馈系统和成像系统，记录扫描过程中一系列探针变化就可以获得样品表面信息图像。

测试步骤

以布鲁克Dimension Icon为例，常规测试步骤如下所示（仅供参考）：
1、制样。对于粉末样品使用溶剂分散到云母片（不同样品使用的基底不同）上制样，对于液体样品直接分散到云母片上制样；
2、根据测试要求选择测量模式；
3、安装探针。
4、调整激光、光电探测器、针尖、聚焦样品表面等操作；
5、根据测试要求设置扫描参数；
6、开始进针扫描；
7、导出数据。

样品要求

1. 样品状态：可为粉末、液体、块体、薄膜样品；
2. 粉末样品：常规测试项目样品起伏一般不超过5微米，特殊测试项目样品起伏一般不超过1um，提供20mg，液体不少于1ml，尺寸过大请提前咨询客户经理；
3. 粉末/液体样品请务必备注好制样条件，包括分散液，超声时间及配制浓度；
4. 薄膜或块状样品尺寸要求：长宽0.5-3cm之间，厚度0.1-1cm之间，表面粗糙度不超过5um，一定要标明测试面！块状样品需要固定好，避免在寄送过程产生晃动或摩擦影响测试结果！
5. 测试PFM、KPFM、C-AFM、PeakForce TUNA的材料需要将样品制备在导电基底上，基底大小符合块状样品的尺寸要求，KPFM、C-AFM、PeakForce TUNA的样品需要导电或至少为半导体；
6. PFM，KPFM测试需要样品表面十分平整，样品粗糙度最好在10-200nm之间，粉末样品测试很难测到较好结果，下单前请确保风险可接受。

原子力显微镜（AFM）

仪器型号: Bruker Dimension ICON；Bruker Multimode 8；牛津MFP-3D infinity；牛津 CypherES等

预约次数: 9562次

服务周期: 收到样品后平均3.5-7.0工作日完成