项目简介

测试说明及原理

双球差校正透射电子显微镜，能在TEM模式和STEM模式下提高分辨率，分辨率小于60pm；
配有四个高效能谱探头，能实现原子级化学成分分析；
利用单色器、电子能量损失谱，可对材料局部区域的光学性质、电子结构及原子环境等信息进行极高分辨率的表征；
该透射电镜同时也能在透射、扫描透射和能谱模式下对材料进行三维重构；
此外，也配有洛伦兹模式、差分相位衬度和电子全息。

样品要求

1.粉末至少3mg，确保样品干净、未吸附有机物，原则上只接受原样，请勿自行分散；
2.液体至少0.5ml，不含表面活性物质；
3.测试厚度应小于20nm，必须提供样品TEM和HRTEM图、分散剂和参考文献图；
4.球差能谱检出限0.1% at，低于0.1%含量仅供参考；
5.请明确样品磁性（可用磁铁吸引判断）；
6.不耐高温、易分解、易相变等样品及特殊晶面要求请提前告知；
7.送样前，请联系工作人员协商测试要求;
8.可提供制样方式，包括载网选择、分散剂、浓度、超声时间、烘干时间等详细参数；若不提供制样方式，则以测试工程师制样经验为准。

AC-STEM 聚光镜球差透射

仪器型号: FEI Theims Z，Titan Cubed Themis G2300，JEM-ARM200F

预约次数: 5621次

服务周期: 收到样品后平均2.9-7.0工作日完成